工业CT检测-数模比对X射线无损检测系统支持

数模比对目的：在研发阶段模具设计人员需要得到试验件与CAD数模之间的差距，根据测量结果进行修模。通过工业CT及分析软件可以将扫描结果与CAD数模进行拟合，以直观的色彩偏差形象地显示，不仅可以得到工件整体的偏差，还能得到关键位置的具体偏差值。实际生产的产品与理想的CAD模型可能存在一定尺寸差异从而影响产品的性能和使用，帮助分析对比存在的差异反诸于生产工艺的改进。

三维X射线扫描（简称CT）是以非破坏性X射线透视技术，将待测物体做360°自转，通过单一轴面的射线穿透被测物体，根据被测物体各部分对射线的吸收与透射率不同，收集每个角度的穿透图像，之后利用电脑运算重构出待测物体的实体图像。

CT是采用计算机断层扫描技术对产品进行无损检测（NDT）和无损评价（NDE）的手段，利用断层成像技术，可实现产品无损可视化测量、组装瑕疵或材料分析。

CT扫描取代传统的破坏性监测和分析，任何方向上的非破坏性切片和成像，不受周围细节特征的遮挡，可直接获得目标特征的空间位置、形状及尺寸信息。

图为某客户送检样品，通过CT扫描分析，实现测量数据与CAD模型的比对，色谱偏差分析，清晰的展现尺寸差异。